ZT低温测试仓

ZT低温测试仓适用范围：

       国防工业，航天工业自动化零组件，汽车部件，电子、电器零组件，塑料、化工业，食品

业，制药工业及相关产品之耐寒、耐干性能及研发，质量管理工程之试验规范。

ZT低温测试仓满足标准：GB/T2423.1～2《电工电子产品的基本环境试验规程试验。A：

低温试验方法》.

执行与满足标准：

1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件；

2.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；

3.GB2423.1低温试验、试验A

4.GB/T2423.34-2005低、温度循环试验。

规格型号及技术参数：

ZT-CTH-80B，    ZT-CTH-120B 

ZT-CTH-150B，  ZT-CTH-225B                                         

ZT-CTH-306B，  ZT-CTH-408B

ZT-CTH-800B，  ZT-CTH-1000B

 
1.温度范围 ：常温RT~0℃/-20℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-86℃。  

2.控制稳定度 ：±0.5℃  

3.分布均匀度 ：±1.0℃  

4.温度偏差：  ≤±2℃                          

5.正常降温时间： +20~0℃小于20分钟

                           +20~-20℃小于45分钟

                           +20~-40℃小于60分钟

                           +20~-50℃小于70分钟

                           +20~-60℃小于75分钟

                           +20~-70℃小于80分钟

  　                     +20~-86℃小于100分钟

工作内尺寸：  　

ZT-CTH-50B   　  W宽35XH高40XD深35cm

ZT-CTH-80B   　  W宽40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-120B 　  W宽50XH高60XD深40cm

ZT-CTH-150B 　  W宽50XH高60XD深50cm

ZT-CTH-225B 　  W宽60XH高75XD深50cm

ZT-CTH-306B 　  W宽60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408B 　  W宽60XH高85XD深80cm 

ZT-CTH-800B 　  W宽100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000B　 W宽100XH高100XD深100cm

控制器：

      采用加拿大“RUERSI”进口微电脑液晶显示薄膜按键型，英文表示温度可程控器，具

10组程序100段次记忆，每段 99Hour59Min，每段可循环999次，可任意分割设定，并附多

组PID控制功能。